開槽臺(tái)式微區(qū)XRF光譜儀M2 BLIZZARD
M2 BLIZZARD是布魯克公司推出的一款微區(qū)X射線熒光光譜儀， 依據(jù)ASTMB568和DIN/ISO 3497，對(duì)材料成分和多層涂層厚度進(jìn)行無損分析。
采用開槽設(shè)計(jì)，非常適用于扁平形狀和尺寸過大的樣品，例如大型印刷電路板。
該儀器采用全新的、世界的XSpect Pro軟件進(jìn)行控制。
PCB 分析的理想解決方案
主要特性：
- 開槽構(gòu)型，帶可伸長的“超大尺寸”樣品臺(tái)
- 可以調(diào)節(jié)槽縫間隙（10或20毫米）
- 設(shè)有大型、耐用的樣品托盤，用于樣品定位
- 全新優(yōu)化XSpect Pro操作軟件
- 的XData軟件用于應(yīng)用程序，標(biāo)準(zhǔn)樣品與數(shù)據(jù)庫管理
- 可自定義設(shè)置用戶界面和測(cè)試結(jié)果界面
- 具備波譜自動(dòng)保存功能，用于測(cè)量后結(jié)果的再處理以及存檔
- 用戶設(shè)定公差，可以方便地判定“合格/不合格”
- “峰值查找器”，用于定性分析未知樣品
- 軟件含有測(cè)試報(bào)告模板以供客戶編輯使用
- 配置工業(yè)強(qiáng)度的腳踏開關(guān)，用于“開始/停止”測(cè)量（可選項(xiàng)）
- 可*設(shè)置SPC軟件，配合客戶工藝需求（可選項(xiàng)）
- 儀器設(shè)計(jì)簡潔堅(jiān)固，只需一條USB電纜與PC連接
技術(shù)參數(shù)
M2 BLIZZARD的兩種探測(cè)器選項(xiàng)。 可選用比例計(jì)數(shù)器（PC）或 高分辨率硅漂移探測(cè)器（SDD）
參數(shù) | 規(guī)格 |
激發(fā) | 微焦點(diǎn)，高性能，帶側(cè)窗，鎢靶 |
高電壓 | 50 kV，50W |
探測(cè)器 | 大面積正比計(jì)數(shù)器，感應(yīng)面積1100 mm 2， 能量分辨率 < 950eV （Mn-Kа） |
選配探測(cè)器 | 高性能Peltier冷卻XFlashR硅漂移探測(cè)器， 感應(yīng)面積30mm2，能量分辨率 <150 eV （Mn-Kа） |
光斑尺寸 | 固定或4個(gè)自由切換，?0.1到1.5mm 其他準(zhǔn)直器：例如槽式 |
樣品視圖 | 高分辨率彩色攝像系統(tǒng)，放大倍數(shù)~20倍 |
樣品臺(tái) | 手動(dòng)塑料樣品托盤 Z軸自動(dòng)聚焦，行程: 30mm |
定量分析 | 總體分析：基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法模式， 無標(biāo)樣 的FP法（基本參數(shù)法）模式 鍍層分析：FP-基本參數(shù)法模式 |
供電 | 110/230 VAC，50/60 Hz，zui大功率120W |
尺寸（寬x深x高） | 1055 x 688 x 430 mm |
重量 | 75kg |
依據(jù) ASTM B568 和 DIN/ISO 3497 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析
